Zref

Omschrijving

Met Zref kunt u twee soorten berekeningen uitvoeren op basis van metingen van eenkristaldiffractie om eenheidscelparameters te bepalen. Als je gecentreerde reflecties op 8 posities op de diffractometer hebt met het zref-commando in de Single-software, worden de uiteindelijke omega-profielen opgeslagen in een rfl-bestand. De reflectieprofielen die in dat bestand zijn opgeslagen, kunnen vervolgens worden onderzocht door het WinIntegrStp-programma, automatisch worden teruggeplaatst en de ideale piekposities en celparameters kunnen worden bepaald. Als je problemen hebt met piekvormen, zal het geautomatiseerde proces mislukken. Als dit gebeurt, kunt u de pieken met de hand passen en integreren in WinIntegrStp en de geplaatste posities opslaan in een geïntegreerd data- of int-bestand. Lees vervolgens het int-bestand in dit programma, waar u de gecorrigeerde piekposities kunt bepalen met de 8-positiemethode en de eenheidscelparameters kunt verfijnen. Het programma leest ook mat-bestanden die door Single zijn gegenereerd, zodat u de kleinste kwadraten op de pieklijst kunt uitvoeren zonder Single te starten.